Determination of in-depth damaged profile by Raman line scan in a pre-cut He2+ irradiated UO2 - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2012

Determination of in-depth damaged profile by Raman line scan in a pre-cut He2+ irradiated UO2

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Patrick Simon  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-00751856

Soumis le : mercredi 14 novembre 2012-13:18:46

Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00751856 , version 1 (14-11-2012)

Identifiants

Citer

G. Guimbretiere, L. Desgranges, A. Canizares, G. Carlot, R. Caraballo, et al.. Determination of in-depth damaged profile by Raman line scan in a pre-cut He2+ irradiated UO2. Applied Physics Letters, 2012, 100, pp.251914. ⟨10.1063/1.4729588⟩. ⟨hal-00751856⟩

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